设备名称：光学轮廓仪型号：ContourGT—K0

生产厂商：布鲁克（北京）科技有限公司

所在实验室：苏州市重点实验室

存放位置：天平校区教学楼北305精密测试实验室

联系人：殷振

详细介绍

ContourGT-K0白光干涉仪，具有优异的抗噪声特性，能实现定标性测量的重复性和再现性，适用于对各种复杂精密元器件形状的高精度质量管理工作，精确测量表面形貌、台阶高度和表面粗糙度等。结合了先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术光学轮廓仪白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界最高的测量重复性。